基本信息
| 标准名称： | 水平法砷化镓单晶及切割片 |
| 英文名称： | Horizontal bridgman grown gallium arsenide single crystal and cutting wafer |
| 中标分类： | 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 化合物半导体材料 |
| ICS分类： | 电气工程 >> 半导体材料 |
| 替代情况： | 替代GB/T 11094-1989 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2007-12-18 |
| 实施日期： | 2008-02-01 |
| 首发日期： | 1989-03-31 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 提出单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院 |
| 起草人： | 武壮文、王继荣、张海涛、于洪国 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-02-01 |
| 页数： | 12页 |
| 计划单号： | 20031803-T-610 |
适用范围
本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。
前言
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目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T8760 砷化镓单晶位错密度的测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
GJB1927 砷化镓单晶材料测试方法
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 化合物半导体材料 电气工程 半导体材料